需求描述

一. 主要是 OLED類的線劃傷缺陷檢測，圖像可能是網格或晶格狀的，要求同類型的產品同個畫面的圖像，亮暗線或亮暗劃傷使用同一套參數可以調試檢出，不同畫面下可以使用不同的參數，但，同一畫面下，亮線或暗線的參數必須一樣，使用的語言必須是c++，不能調用halcon，可以配合opencv一起使用，不能使用深度學習只能是用傳統算法來做
二. c++做過OLED缺陷檢測算法，使用傳統算法開發；
三. OLED的網格或晶格形狀的圖像，線和劃傷檢測；
四. 按照項目制來，完成項目并驗收合格算完成